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中國計量測試學會推薦難題,發(fā)布重大科學問題

2021-07-30 08:44:19 來源: 科技日報

7月28日,中國科協(xié)在第二十三屆中國科協(xié)年會閉幕式上發(fā)布了10個對科學發(fā)展具有導向作用的重大科學問題、10個對工程技術(shù)創(chuàng)新具有關(guān)鍵作用的工程技術(shù)難題、10個對產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有引領(lǐng)作用的產(chǎn)業(yè)技術(shù)問題。由中國計量測試學會推薦的“地球以外有統(tǒng)一的時間規(guī)則嗎?”入選十大重大科學問題、“如何解決三維半導體芯片中納米結(jié)構(gòu)測量難題?”入選十大工程技術(shù)難題。同時,學會還被評為“2021年度優(yōu)秀推薦單位”。

“地球以外有統(tǒng)一的時間規(guī)則嗎?”由中國航天科技集團五院514所總師劉民研究員提出。隨著我國空間站等航天科技的迅速推進,該問題探索了地球以外廣袤宇宙的時間系統(tǒng),以航天活動未來發(fā)展對時間統(tǒng)一的需求,提出了“空間守時系統(tǒng)”概念。問題的發(fā)布得到社會的關(guān)注,央視新聞記者在發(fā)布現(xiàn)場就問題的前瞻、科學、研究進展等對學會馬秘書長進行了采訪,并在CCTV-13《朝聞天下》播出。

“如何解決三維半導體芯片中納米結(jié)構(gòu)測量難題?”由西安交通大學楊樹明教授提出。為占領(lǐng)三維芯片檢測制高點,實現(xiàn)三維半導體芯片檢測領(lǐng)域彎道超車,該問題分析了三維半導體芯片未來發(fā)展對測量技術(shù)的需求,探索了大深寬比納米結(jié)構(gòu)測量的最新發(fā)展方向,研究了大長徑比納米探針技術(shù)在新一代半導體芯片測量中的可行。

2018年以來,中國科協(xié)組織全國學會等科技共同體,面向廣大科技工作者征集評選重大前沿科學問題和工程技術(shù)難題,在中國科協(xié)年會上發(fā)布,四年共評選、發(fā)布了130個問題難題。2021年征集發(fā)布活動共征集到89個國內(nèi)科技組織、73個國外組織和境外專家推薦的472個問題難題,2萬余名一線科技工作者和戰(zhàn)略科學家參與推薦和研判。積極推動問題難題納入國家科技規(guī)劃、科研項目,引導科技共同體識別科技發(fā)展的挑戰(zhàn)與機遇,打造研判趨勢、思考問題的智慧燈塔。中國計量測試學會2019年以來共向中國科協(xié)推薦問題難題28項,1項入選十大重大科學問題、2項入選十大工程技術(shù)難題。(記者 華凌)

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